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  • Nanosystem NV-1000白光干涉儀

    Nanosystem NV-1000白光干涉儀是利用白光干涉特性來進行表面形貌的測量,它結合了典型的WSI非常高的垂直分辨率和一個非常大的面積高達21.7毫米x16.3毫米。這使得高精度和大面積快速測量成為可能,而無需縫合。

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    更新日期:2021-04-17
  • NanoSystem CS-2000氣缸內壁表面形貌儀

    NanoSystem CS-2000氣缸內壁表面形貌儀結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產水平能力的三維表面形貌。

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    廠商性質:代理商
    更新日期:2021-10-10
  • NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀

    NanoSystem NV-1800 3D輪廓儀屬于緊湊式機型,但仍具有很高的測試性能。簡單的操作性和良好的重復性使得它在研發和分析不良產品方面發揮著重要作用。

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    更新日期:2022-01-04
  • FigSpec FS-2X系列高光譜相機

    FigSpec FS-2X系列高光譜相機包含可見光(400-700nm)、近紅外(400-1000nm)和短波近紅外(900-1700nm)3種光譜區域,廣泛應用于印刷,紡織等各種工業制品的表面顏色紋理檢測(顏色測量單像素重復性可達dE*ab 0.1),成分識別,物質鑒別,機器視覺,農產品品質等領域。

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    更新日期:2024-06-09
  • FigSpec FS-1X系列高光譜相機

    FigSpec FS-1X系列高光譜相機包含可見光(400-700nm)、近紅外(400-1000nm)和短波近紅外(900-1700nm)3種光譜區域,廣泛應用于印刷,紡織等各種工業制品的表面顏色紋理檢測(顏色測量單像素重復性可達dE*ab0.1),成分識別,物質鑒別,機器視覺,農產品品質等領域。

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    更新日期:2024-06-09
  • NEOSCAN N70 microCT顯微CT

    NEOSCAN N70 microCT顯微CT采用錐形X 線束(Cone Beam), 獲得真正各向同性的容積圖像,并重構3D圖像,提高空間分辨率和X射線利用率。科研級計算機斷層掃描系統

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    更新日期:2023-05-07
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